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宽禁带科技论|石溪大学团队绘制SiC薄膜原子级生长机理
近日，纽约州立大学石溪分校onsemi宽禁带材料研究中心团队在《Journal of Applied Physics》发表封面论文"Mechanisms of nucleation, dislocation formation, and stress evolution duri
晶圆检测设备相关常见术语
晶圆量检测设备是芯片制造流程里的质检与体检系统。行业习惯把两类设备合称量检测（Metrology & Inspection，M&I），但两者的作用完全不同：量测作用是测出这条线宽是45纳米还是46纳米，检测测的是这片晶圆上有没有多出来一个颗粒。
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Ejection system 顶出系统、脱模系统pin 顶针、推杆spring 弹簧Gate type浇口类型sprue 主流道runner 分流道cavity 模腔Sprue gate 直浇口Pin point gate点浇口Tab gate 护耳浇口Fan gate 扇形浇
半导体Defect介绍
成因:在电浆环境中，高浓度的带正电离子经由电弧对晶片表面容易蓄积电荷或导电部位放电时所产生的高热熔毁金属线路。Blind Contact / Blind VIA 介层瞎窗。